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温度冲击试验箱发展不足的技术差距 |
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| 时间：2012-8-23 |
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业内专家认为，对温度冲击试验箱而言，我们始终是跟着别人的脚步在学习，在追赶，这是技术方面存在的最大问题。例如近几年在试验设备方面，是各种高新技术的强项，然而这些高新技术，都是外国定义研发的，这也就意味着，中国要应用这些高新技术，就逃不开他们定义的检测系统架构及测试方法，多数情况下我们不得不去购买他们的产品来满足国内的测试系统要求。
如果说在这些系统级测试仪器方面，因为温度冲击试验箱开放的高新技术差距相对比较小，那么在试验设备方面，国内外的差距几乎很难去衡量。业内人士认为，对于基础的测试仪器而言，其架构和概念并不难理解，但到了具体的功能定义和产品的功能实现方面，我们就存在着较大的差距，这让中国的测试仪器开发和应用陷入的是一个尴尬的循环：我们无法跟踪先进的电子技术发展的前沿科技，就没有办法了解其测试需求，就自然而然无法去为此开发适合最新技术的测试仪器，那么更谈不上把握最新的测试市场脉搏和赚取最丰厚的那部分利润；而你做不来先进新技术的测试，新技术出现的时候你就抓不住，人家也不可能交给你去满足最初的测试需求，这样就无法了解最新的技术动向，也就无法将新技术应用到你的测试仪器中。
据了解，在应用测试中，制约本土测试仪器应用一个更重要的问题来自于温度冲击试验箱的缺失：国内的测试仪器企业，无论是老牌国有研究所还是新兴的私有测试仪器企业，自身具备的芯片研发能力相比国际巨头有较大的差距。可以说，测试用的芯片因为其特殊的一些要求，在市场上是很难找到相关合适的产品，特别是在信号分析和信号采集方面，模拟前端技术和信号采集技术的不足，直接体现在国产的测试仪器无法捕获需要的一些特征信号，比如雷达和微波技术的绝大部分需求，商用芯片是无法满足其测试需求的，这样的结果是，国产的测试仪器厂商不是不知道怎么去满足，而是没有相关的半导体器件能够做出满足这些采样率、带宽需求的产品，而这两点，恰恰是实际应用中许多信号分析和信号处理的前提。 |
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